產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
TA100超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)
TPL300穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜系統(tǒng)
LFP100閃光光解系統(tǒng)
THZ100超快時間分辨太赫茲光譜系統(tǒng)
深紫外熒光系統(tǒng)
FLIM300多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統(tǒng)
UPSI100超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)
UF100超快熒光光譜系統(tǒng)
碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)
大能量DPSS Nd:YAG納秒脈沖激光器
高能高頻DPSS連續(xù)可調(diào)諧納秒激光器
高速探測器
SHG100非線性SHG測試系統(tǒng)
Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100
MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng)
SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng)
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心非線性光學(xué)系列Z掃描測試系統(tǒng)Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100
Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100主要技術(shù)指標：
精密光學(xué)位移臺
速度 | 30mm/s |
最小分辨率 | 0.1μm |
重復(fù)定位精度 | ＜2μm |
功率探測器 | |
測試波長 | 350-1700nm |
功率檢測范圍 | 50nW-40mW |
抖動消除 | 參比雙通道信號同時采集 |
Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100應(yīng)用實例：
實驗條件
樣品名稱 | 單晶硅 |
激發(fā)光波長 | 1030nm |
探測光波長 | 1030nm |
大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時間分辨光譜技術(shù)橫向協同，致力于推動光譜技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域的深入應(yīng)用不折不扣。在科研儀器領(lǐng)域，創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш牱€定性，是目前國?nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨立研發(fā)-生產(chǎn)-應(yīng)用完整能力體系的團隊最深厚的底氣。創(chuàng)銳光譜以時間分辨光譜核心技術(shù)，超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品資源優勢，打破進口壟斷格局應用擴展。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)振奮起來、DPSS納秒激光器及高速探測器。在工業(yè)半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域，公司以光譜技術(shù)創(chuàng)新為核心立足點長足發展，已迅速完成碳化硅襯底好宣講、外延、氮化鎵保障性、鈣鈦礦電池等多領(lǐng)域布局不斷進步。
上一個：
返回列表
