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半導體光學檢測系列
SiC晶圓少子壽命質量成像監(jiān)測系統(tǒng)
SiC晶圓質量成像檢測系統(tǒng)
SiC晶圓質量成像檢測系統(tǒng)
product
產(chǎn)品分類SiC晶圓質量成像檢測系統(tǒng)特點:
晶圓襯底質量(載流子壽命)高速成像
快速篩查外延片晶格質量
高時空分辨率
多激發(fā)波長可切換
SiC晶圓質量成像檢測系統(tǒng)全自動送樣測試
大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時間分辨光譜技術有效保障,致力于推動光譜技術在科研和工業(yè)領域的深入應用激發創作。在科研儀器領域更高效,創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш牐悄壳皣鴥葮O少具備瞬態(tài)光譜獨立研發(fā)-生產(chǎn)-應用完整能力體系的團隊體系。創(chuàng)銳光譜以時間分辨光譜核心技術宣講活動,超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品,打破進口壟斷格局註入新的動力。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)快速融入、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測器工藝技術。在工業(yè)半導體檢測領域發揮作用,公司以光譜技術創(chuàng)新為核心立足點,已迅速完成碳化硅襯底系統、外延十分落實、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領域布局逐步顯現。